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插回损测试仪

Class 双波段插回损测试仪

ModelTHD3327

特点

应用

l   稳定光源

l  光纤器件生产

l   操作简单

l  光纤CATV工程

l    

l  光纤 通信工程

l    

l  光纤传感研究

 

产品介绍:

THD3327插回损测试仪是集合自身多年的光纤无源器件和光通信检测仪表的生产和测试经验,充分借鉴了国内外仪表的优点和国内客户的需求,精心研制开发出来的一款精密光检测仪表。它广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试,是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护基本的测试仪器

    内置高稳定光源,先进的微电子技术和光检测设备,结合软件技术,使得仪器输出功率稳定、检测速

产品展示:

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性能参数

参数/单位

数值

光回波损耗测试

测试波长(nm

1310/1550±3nm

测试光纤类型(μm

9/125

连接器类型

FC/APC

输出功率(dBm

≥-5

输出稳定度(dB

±0。005(15 min @ 25)

测试范围(dB

075

显示分辨率(dBm/dB

0。01

测试精度(dB

±0。3065dB

光插入损耗测试

探测器类型

Φ2.0mm InGaAs

波长范围(nm

8001700

校准波长(nm

850/1300/1310/1490/1550/1625

测量范围(dBm

+3-75

功率不确定度(%

±5+3-65dBm

测试模式

Linearity/Non-Linearity

显示分辨率(dBm/dB/xW

0。01

连接器类型

活动接口, FC/SC/ST/通用Φ2。5mm/通用Φ1.25mm等适配器

通用指标

显示屏

OLED

通讯接口

USB2.0/RS232/无线模块(可选)

 电源(V

AC 90260

工作温度(℃)

0+40

存储温度(℃)

-25+70

相对湿度

0~85%(不冷凝)

外观尺寸(mmL*W*H

280*260*120

重量(kg

3.15

 

 

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